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真空紫外線高級氧化還原工藝

更新時間: 2026-04-24
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VUV工藝利用185nm真空紫外線直接光解水分子,在極薄的邊界層內同時產生羥基自由基(氧化劑)和水合電子(還原劑)。由于光子穿透深度小于1毫米,反應受傳質控制,需借助CFD模擬來優化反應器設計。

一、真空紫外線:同時實現氧化與還原的高效工藝

真空紫外線高級氧化還原工藝的核心,是利用波長在10-200 nm范圍內(主要是185nm)的真空紫外線直接照射水分子,使其發生均裂光解,同時產生高活性的氧化性自由基(羥基自由基HO·)和還原性自由基(氫自由基H·及水合電子e??q)。

氧化還原點位.png


真空紫外線光子能量高,能被水分子直接吸收,導致O-H鍵斷裂。在185 nm波長下,其量子產率為0.33。生成的羥基自由基、氫原子和水合電子分別是強的氧化劑和還原劑,可以攻擊并降解水中的目標污染物,實現氧化或還原轉化。

二、真空紫外線工藝的動力學特征

水對VUV輻射的吸收強。在172 nm波長下,99%的光子穿透深度僅為約30微米(µm);在185 nm波長下,穿透深度約為15毫米(mm)。因此,VUV引發的光化學反應被嚴格限制在光源表面附近一個極薄的光化學邊界層內。

由于自由基的生成和反應速率極快,真空紫外線反應器的整體動態行為通常受傳質過程控制,而非本征反應動力學控制。這意味著,污染物從反應器主體向光化學邊界層的擴散速率,往往成為整個降解過程的限速步驟。

VUV工藝通過直接光解水分子,在極薄的光化學邊界層內同時產生高活性的氧化性和還原性自由基,為處理多種污染物提供了獨特的氧化還原耦合環境。

項目現場示意圖.png


溶解氧濃度是調控氧化與還原路徑相對貢獻的關鍵因素。

安力斯環境的VUV反應器成功設計與優化高度依賴于對輻照度場、復雜反應網絡和流體傳質的耦合模擬。公司已在多個項目中成功應用VUV工藝,特別是在處理高鹽度、高TOC廢水方面展現出獨特優勢。


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